用于研究人员制作标准定倍定标显微图像、定倍定标图谱比对及论文发表。同时系统也可对所采集的图像内目标进行直线、折线、圆、角度、面积等多种测量,可为研究检验人员研究电子元器件,芯片线路板、纺织印刷,农林牧种子形态,固体粉末及液体中微颗粒,薄膜微孔提供精确的分析检验数据。
成像系统配置:
1、 | 三目连续变倍体视显微镜XTD-7045SZ |
2、 | 320万高清晰数字摄像头(含测量管理软件) |
3、 | 1X摄像接口(可选配0.5X) |
4、 | 台式机或笔记本电脑、打印机(此项均为选购,仪器不包含此项价格) |
技术参数:
序号 | 名称 | 技术参数 |
1 | 目镜倍数 | 10X高眼点广角平场 视场直径ф20mm |
2 | 物镜倍数 | 0.7X-4.5X物镜变倍比1:6.4 |
3 | 三目观察头 | 瞳距55-75mm视度调节±5屈光度45°倾斜360°旋转 |
4 | 视场范围 | 32 mm -4.4mm |
5 | 总放大倍数 | 7X-45X(选购0.5X、2X大物镜,20X目镜可达3.5X-180X) |
6 | 工作距离 | 最大工作距离100mm |
7 | 调节范围 | 升降调节范围45mm立杆调节范围140mm被观察物最大高度100mm |
8 | 玻璃载物台 | 玻璃载物工作台直径ф80mm |
9 | 立柱高度 | 240mm |
光源 | 配送环形荧光灯 | |
10 | 仪器重量 | 净重:4.0kg毛重:7.0kg |
11 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸200x255x22mm 包装尺寸28X40X44(cm) |