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GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)

2014-06-03 电子/电器/半导体 我要评论 本页含有可云端下载的文件

中文名称： 寿命试验和加速寿命试验的Zui好线性无偏估计法(用于威布尔分布)
英文名称：Life test and acceleration life test--Optimal linear deflection-free evaluation of Weibull distributions
ICS分类：31.020
中标分类：L05
发布日期：1981-06-22
实施日期：1981-10-01

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